›
Система измерения эффекта Холла DX-100
Система измерения эффекта Холла DX-100 Xiamen Dexing Magnet Tech (Dexinmag)
Применение
Измерительная система эффекта Холла DX-100 используется для иследований важных параметров полупроводниковых материалов при различных температурах: концентрации носителей заряда, подвижности, удельного сопротивления, коэффициента Холла и других величин.
| Физические свойства | |
| Концентрация носителей | 103 см−3~ 1023 см−3 |
| Подвижность | 0.1 см2/В*с ~ 108 см2/В*с |
| Диапазон удельного сопротивления | 10-7 Ом*см ~ 1012 Ом*см |
| Напряжение Холла | 1мкВ ~ 3В |
| Коэффициент Холла | 10-5 ~ 1027 см3/Кл |
| Тестируемые материалы | |
| Полупроводники | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и ферриты, и др. |
| Материалы с низким сопротивлением | Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводники, TMR материалы и др. |
| Материалы с высоким сопротивлением | Полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др. |
| Тип материала | P-тип и N-тип |
| Характеристики магнитного поля | |
| Тип магнита | Регулируемый электромагнит постоянного тока |
| Магнитное поле | 1900мТл (расстояние между полюсами 10мм); 1300мТл (расстояние между полюсами 20мм); 900мТл (расстояние между полюсами 30мм); 800мТл (расстояние между полюсами 40мм); 600мТл (расстояние между полюсами 50мм) |
| Однородность поля: 1% | Мин. разрешение: 0,1 Гс |
| Опционально | Другие варианты по запросу |
| Электрические параметры | |
| Источник тока | 50.00нА−50.00мА |
| Разрешение источника тока | 0.0001 мкA |
| Измерение напряжения | 0 ~ ±3В |
| Разрешение по напряжению | 0.0001 мВ |
| Другие аксессуары | |
| Экранирование | Детали для повышения стабильности тестов |
| Размер образца | 10*10мм по умолчанию, макс. 16*16мм |
| Тестовые образцы (калибровочные) | Стандартные образцы для испытаний на эффект Холла и данные Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект (Si, Ge, GaAs, InSb) |
| Омические контакты | Электрический паяльник, индиевый лист, припой, эмалированная проволока и т.д. |
| Возможности | |
| Измерения производятся автоматически по нажатию кнопки (не требуется участие человека после начала теста). | |
| Возможность получить I-V и B-V кривые | |
| ПО для автоматического измерения температуры | |
| Результаты эксперимента временно сохраняются в программе. Если требуется длительное хранение, данные могут быть экспортированы в таблицу EXCEL для облегчения их последующей обработки. | |
| Тестовые образцы входят в комплект | |
Примеры тестов
Измерения при высоких и низких температурах
| Модель | Диапазон температур для эксперимента | Характеристики |
| Система DX-100 для высоких и низких температур | 80K ~ 500K (высокая и низкая температуры, регулировка температуры 0.1K) | Мин. разрешение: 0.1Гс; Ток на образце: 0.05мкА~50мА (регулировка: 0.1нА); Магнитное поле: 2Т при зазоре 10мм, 1Т при зазоре 30мм; Диапазон удельных сопротивлений: 10-5~107 Ом*см; Концентрация носителей: 103~1023см−3; Подвижность: 0.1 см2/В*с ~ 108 см2/В*с Диапазон сопротивлений: 10мОм~6МОм |
| Система DX-100H для высоких температур | 300K ~ 500K (высокая температура, регулировка температуры 0.1K) | |
| Система DX-100L для низких температур | 80K ～ 300K (низкая температура, регулировка температуры 0.1K) | |
| Система DX-200L для низких температур | 4K ～ 300K (низкая температура, регулировка температуры 0.1K) | |
| Система DX-500 для высоких и низких температур | 80K ~ 800K (высокая и низкая температуры, регулировка температуры 0.1K) | |
| Система DX-500H для высоких температур | 300 K ~ 800 K (высокая температура, регулировка температуры 0.1K) |
Цена предоставляется по запросу. Позвоните или напишите нам.
Мы поможем подобрать оптимальное по характеристикам и цене оборудование под Ваш бюджет.