Система измерения эффекта Холла DX-1000T
Применение:
Система DX-1000T используется для измерения важных параметров полупроводников, таких как концентрация носителей, подвижность, удельное сопротивление и коэффициент Холла. Экспериментальные результаты автоматически обрабатываются программой. Предназначена для исследований в диапазоне температур от 80 до 470К. Комплектация предоставляется по запросу.
Тестируемые материалы
- полупроводники: SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и ферриты, и др.;
- материалы с низким сопротивлением: графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводники, TMR материалы и др.;
- материалы с высоким сопротивлением: полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др.
Технические характеристики
- магнитное поле: 2Tл (шаг 10 мм), 1Tл (шаг 30 мм);
- ток на образце: 0,05мкА ~ 50мА (регулировка: 0,1 нА);
- измерение напряжения: 0,1мкВ ~ 30В;
- тестовые образцы для экспериментов в комплекте;
- минимальное разрешение: 0,1Гс;
- диапазон магнитного поля: 0-1Тл;
- измерение I-V и I-R кривых и др.;
- диапазон удельного сопротивления: 10-7 ~ 1012 Ом*см;
- диапазон сопротивления: 10мОм ~ 6МОм;
- концентрация носителей: 103 ~ 1023 см-3;
- подвижность: 0,1 ~ 108 см2/В*с;
- регулировка температуры 0,1К;
- диапазон температур: 80К ~ 470К;
- полностью автоматизированная работа, управление одной кнопкой.