Система измерения эффекта Холла DX-30
Система измерения эффекта Холла DX-30 Xiamen Dexing Magnet Tech (Dexinmag)
Применение
Система измерения эффекта Холла с постоянным магнитом DX-30 используется для исследования таких важных параметров, как подвижность, концентрация носителей, удельное сопротивление, коэффициент Холла и др. Эти параметры необходимы для изучения электрических свойств полупроводников, поэтому установка DX-30 является незаменимым инструментом для изучения электрических свойств полупроводниковых приборов и материалов. Величина магнитного поля: 0,5Тл. Полученные результаты автоматически обрабатываются ПО.
Установка DX-30 включает специально разработанный для такой системы прибор DX-320, который одновременно является источником постоянного тока, микровольтметром и реле. Он может использоваться как источник постоянного тока и как отдельный микровольтметр.
| Физические свойства | |
| Концентрация носителей | 103 см−3~ 1023 см−3 |
| Подвижность | 0.1 см2/В*с ~ 108 см2/В*с |
| Диапазон удельного сопротивления | 10-5 Ом*см ~ 107 Ом*см |
| Напряжение Холла | 1мкВ ~ 3В |
| Коэффициент Холла | 10-5 ~ 1027 см3/Кл |
| Тестируемые материалы | |
| Полупроводники | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и ферриты, и др. |
| Материалы с низким сопротивлением | Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводники, TMR материалы и др. |
| Материалы с высоким сопротивлением | Полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др. |
| Тип материала | P-тип и N-тип |
| Характеристики магнитного поля | |
| Тип магнита | Постоянные магниты NMR (ЯМР) |
| Магнитное поле | 500мТл (расстояние между полюсами: 18мм) |
| Опционально | Другие варианты по запросу |
| Электрические параметры | |
| Источник тока | 50.00нА−50.00мА |
| Разрешение источника тока | 0.0001 мкA |
| Измерение напряжения | 0 ~ ± 3В |
| Разрешение по напряжению | 0.0001 мВ |
| Другие аксессуары | |
| Экранирование | Детали для повышения стабильности тестов |
| Размер образца | Макс. 30мм*30мм |
| Тестовые образцы (калибровочные) | Стандартные образцы для испытаний на эффект Холла и данные Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект (Si, Ge, GaAs, InSb) |
| Омические контакты | Электрический паяльник, индиевый лист, припой, эмалированная проволока и т.д. |
| Возможности | |
| Измерения производятся автоматически по нажатию кнопки (не требуется участие человека после начала теста). | |
| Возможность получить I-V и B-V кривые. | |
| ПО для автоматического измерения температуры | |
| Результаты измерений временно сохраняются в программе. Если требуется их последующее сохранение, данные можно экспортировать в таблицу EXCEL для дальнейшей обработки. | |
| Тестовые образцы входят в комплект поставки. | |
Примеры тестов
Цена предоставляется по запросу. Позвоните или напишите нам.
Мы поможем подобрать оптимальное по характеристикам и цене оборудование под Ваш бюджет.