Система измерения эффекта Холла DX-70
Система измерения эффекта Холла DX-70 Xiamen Dexing Magnet Tech (Dexinmag)
Применение
Измерительная система эффекта Холла DX-70 используется для изучения важных параметров полупроводниковых материалов. Экспериментальные результаты автоматически обрабатываются программой. Можно одновременно получать такие параметры, как концентрация носителей (объемная и на единицу площади), подвижность, удельное сопротивление, коэффициент Холла и магнитное сопротивление.
В этой системе используется новейший источник-измеритель Keithley (США) в сочетании с соответствующей матричной платой с низкой задержкой и высокой производительностью. Это увеличивает диапазон, повышает точность подачи тока на образец и измерения значения напряжения Холла на тестируемом образце и расширяет возможности для исследований.
| Физические свойства | |
| Концентрация носителей | 103 см−3~ 1023 см−3 |
| Подвижность | 0.1 см2/В*с ~ 108 см2/В*с |
| Диапазон удельного сопротивления | 10-7 Ом*см ~ 1010 Ом*см |
| Напряжение Холла | 0,1 мкВ ~ 200 В |
| Коэффициент Холла | 10-5 ~ 1027 см3/Кл |
| Тестируемые материалы | |
| Полупроводники | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и ферриты, и др. |
| Материалы с низким сопротивлением | Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводники, TMR материалы и др. |
| Материалы с высоким сопротивлением | Полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др. |
| Тип материала | P-тип и N-тип |
| Характеристики магнитного поля | |
| Тип магнита | Регулируемый электромагнит постоянного тока |
| Магнитное поле | 1070 мТл (расстояние между полюсами 10 мм); 687 мТл (расстояние между полюсами 20 мм); 500 мТл (расстояние между полюсами 30 мм); 378 мТл (расстояние между полюсами 40 мм); 293 мТл (расстояние между полюсами 50 мм) |
| Однородность поля | 1% |
| Опционально | Другие варианты по запросу |
| Электрические параметры | |
| Источник тока | ±0.1 нА − ±1000 мА |
| Разрешение источника тока | 0.001 мкA |
| Измерение напряжения | ±10 нВ ~ ±200 В |
| Разрешение по напряжению | 0.0001 мВ |
| Другие аксессуары | |
| Экранирование | Детали для повышения стабильности тестов |
| Размер образца | Макс. 30*30 мм |
| Тестовые образцы (калибровочные) | Стандартные образцы для испытаний на эффект Холла и данные Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект (Si, Ge, GaAs, InSb) |
| Омические контакты | Электрический паяльник, индиевый лист, припой, эмалированная проволока и т.д. |
| Возможности | |
| Измерения производятся автоматически по нажатию кнопки (не требуется участие человека после начала теста) | |
| Возможность получить I-V и B-V кривые | |
| ПО для автоматического измерения температуры | |
| Результаты эксперимента временно сохраняются в программе. Если требуется длительное хранение, данные могут быть экспортированы в таблицу EXCEL для облегчения их последующей обработки. | |
| Тестовые образцы входят в комплект | |
Примеры тестов
Цена предоставляется по запросу. Позвоните или напишите нам.
Мы поможем подобрать оптимальное по характеристикам и цене оборудование под Ваш бюджет.